Mestrado em Metrologia Científica e Industrial

Fonte: Universidade Federal de Santa Catarina - 19/11/07

A Universidade Federal de Santa Catarina está com processo seletivo aberto para admissão no Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial em nível de Mestrado, com ingresso previsto para Março de 2008. As inscrições têm prazo até 30 de novembro.

O Programa de Mestrado é voltado para todos os candidatos graduados em nível superior, com carga horária mínima de 2.200 horas, nas áreas de Engenharia e Ciências Exatas.

Metrologia

A metrologia é uma área de conhecimento que estuda as medições e sua confiabilidade. Assim, trabalha com vários aspectos como desenvolvimento, avaliação e aplicação de sistemas de medição; garantia da qualidade de produtos, processos e serviços; proteção do consumidor e do meio ambiente; superação de barreiras técnicas e comerciais e desenvolvimento científico e tecnológico.

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