Conrado Ramos Moreira Afonso

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Engenheiro

Paulínia / SP - Brasil

Escolaridade: Doutorado
Formação: Engenharia de Materiais

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Meu objetivo é atuar como Engenheiro de Materiais ou Gerente de Projetos. Possuo graduação em Engenharia de Materiais pela Universidade Federal de São Carlos - UFSCar (1998), com mestrado (2000) e doutorado em Ciência e Engenharia dos Materiais também pela UFSCar (2004). Realizei o Doutorado Sanduíche por 6 meses na University of Florida (UF), FL - USA (2003) e 1 ano de Pós-Doutorado (2005) em Ligas de Titânio na Universidade Estadual de Campinas (Dema/FEM/Unicamp).


Atualmente trabalho como Engenheiro de Materiais no Laboratório de Microscopia Eletrônica (LME) do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS). Atuo no gerecenciamento de projetos: (i) Projeto de pesquisa da rede TMEC/Petrobrás de implantação e operação de infra-estrutura de simulação física (máquina Gleeble) e caracterização avançada de materiais estruturais, incluindo simulação termomecânica de materiais e (ii) Projeto visando a implementação de infra-estrutura de pesquisa que permita a realização da soldagem por atrito com pino ( friction stir welding - FSW) no Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS) e sua utilização no estudo da soldagem por atrito com pino dos aços tipo API X65 e X80 para dutos de petróleo e gás.

 Tem experiência na área de Engenharia de Materiais e Metalúrgia, com ênfase em Solidificação Rápida de Metais e Ligas; Conformação Por Spray, Ligas Metálicas de Ti, Al, Ni e Aços: Microligados, HSLA e Inoxidáveis; Correlação entre Estrutura, Propriedades e Aplicações de Materiais; Caracterização Microestrutural; Propriedades Mecânicas dos Materiais; Gerenciamento de Projetos; Especificação e Compra de Equipamentos Nacionais e Importados, Treinamentos e Consultoria para Empresas; Nanotecnologia, Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM) convencional e de Alta Resolução (HRTEM); Microanálise de Raios-X (EDS); Difração de Elétrons Retroespalhados (EBSD); Preparação de Amostras para Metalografia e Microscopia Eletrônica; Análise de Imagens, Propriedades Mecânicas dos Materiais e Difração de Raios-X (DRX).


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